根據相對測量工具的不同，大理石平臺檢測分為指示器法和光隙法兩種。
       1、指示器法：指示器法是以指示表（百分表、千分表或測微表）將被測尺寸于標準尺寸進行比較，測出被測尺寸于標準尺寸之差的一種方法。測量時用大理石平臺工作面作為測量基面，按一定的布點方式，用指示表逐點測量并記錄讀數，然后按一定的方法評出平面度誤差值。原則上應采用小區(qū)域法評定平面度誤差，但是在實際檢測中經常采用近似的評定方法，一種方法是在測量前，調整被測實際表面上相距遠的三點距大理石平臺等高，然后在被測表面上均勻劃線布點逐點進行測量并記錄數據，取各測點中的大讀數值與小讀數值之差，作為被測的平面度誤差值，此法稱為三點法。另一種方法是將實際表面一個對角方向上的兩個遠點也調至相對大理石平臺等高，再將另外一個對角方向的兩個遠點也調至相對大理石平臺等高，然后在被測表面上均勻劃線布點逐點進行測量，取各測點中的大讀數值與小讀數值之差作為被測表面的平面度誤差，此法稱為對角線法。
       對角線法和三點法都不符合小條件，所以評定出的誤差值均大于按小區(qū)域法評定出的誤差值，但是，由于這兩種方法檢測方便且經濟實用，所以仍被實際測量所采用，如發(fā)生爭議，應以小區(qū)域法評定的結果作為仲裁依據。

2、光隙法：光隙法則是用刀口尺、大理石平臺等將被測量于標準量差值表征為光隙大小的。這種方法是把被測零件放在大理石平臺上，使被測面與大理石平臺工作面接觸，輕微手動零件一下，使零件穩(wěn)定地不受外力的影響*靠自重與大理石平臺接觸，用塞尺測零件四周，測得的大間隙就是被測零件的平面度誤差近似值。本辦法簡單、實用，特別適合于在生產現場對中小型蓋、板類零件平面度誤差的檢測。